測量機(jī)器

• 高速LED光學(xué)特性儀 LE series
  

  產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400） 同以往的產(chǎn)品相比，測量、演算、評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型 測量...
• 光波動場三次元顯微鏡
  

  MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
  
• 分光配光測量系統(tǒng) GP series
  

  產(chǎn)品信息 特殊長度 支持長達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量 還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測量 可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數(shù)法獲得總...
• MCPD series 嵌入式膜厚測試型
  

  本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時，還支持多層厚度測量。通過采用獨(dú)自算法，可以高速實(shí)時監(jiān)控。...
• OPTM series 嵌入型
  

  利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。...
• 相位差測量裝置 RETS-100nx New
  

  產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項(xiàng)目...
• 顯微分光膜厚儀 OPTM series
  

  測量項(xiàng)目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測量原理：[分光干涉法]. 測量對象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍：[1nm~92μm]....
• 膜厚量測儀 FE-300
  

  產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學(xué)薄膜量測儀 藉由絕對反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無復(fù)雜設(shè)定，操作簡單，短時...
• 嵌入式膜厚檢測儀
  

  產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專利 第4834847號） 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。 實(shí)時測量膜厚 可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量...
• 線掃描膜厚儀【在線型】
  

  采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測量（已獲取專利） 實(shí)現(xiàn)高速測量 不受偏差影響 可對應(yīng)寬幅樣...