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展會·講習(xí)會

展會·講習(xí)會

  • 展會名稱 平板狀·薄膜狀樣品的Zeta 電位測量與應(yīng)用的介紹
    展會時間 2024/11/27 15:00~16:00
    舉辦展館 蘇州線上講習(xí)會
    展會介紹 大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位,也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應(yīng)用。
  • 展會名稱 納米粒度儀的基本操作&故障排除
    展會時間 2024/10/23 15:00~16:00
    舉辦展館 蘇州線上講習(xí)會
    展會介紹 無法測試出預(yù)想的結(jié)果,測試數(shù)據(jù)波動這么大?是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)?運(yùn)用方法不對?
    還是測試條件設(shè)置有誤?如果您也有同樣的困惑,請記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會。
  • 展會名稱 AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹
    展會時間 2024年9月25日 15:00~16:00
    舉辦展館 蘇州線上講習(xí)會
    展會介紹 AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹
  • 展會名稱 顯微分光膜厚儀的晶圓圖案對位功能介紹
    展會時間 2024-08-28 15:00:00~2024-08-28 16:00:00
    舉辦展館 蘇州線上講習(xí)會
    展會介紹 大塚電子利用光技術(shù),開發(fā)出各種分析測量裝置,給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。
  • 展會名稱 晶圓和研磨液靜電相互作用的評價方法和半導(dǎo)體制程技術(shù)介紹
    展會時間 2024-07-24 15:00:00~2024-07-24 16:00:00
    舉辦展館 蘇州線上講習(xí)會
    展會介紹 大塚電子利用光技術(shù),開發(fā)出各種分析測量裝置,給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。

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